Leica EM TIC 3X -ionijyrsin
Näytevalmistelu vaativiin elektronimikroskopian sovelluksiin
Leica EM TIC 3X on edistyksellinen ionijyrsin, joka mahdollistaa korkealaatuisten poikkileikkausten ja pintojen valmistelun elektronimikroskopiaa varten. Kolmen laajan ionisuihkun järjestelmä paljastaa näytteiden rakenteet ja tuottaa erinomaisen pinnanlaadun jatkoanalyyseihin, kuten SEM-, EDS-, WDS-, Auger-, EBSD- ja AFM-tutkimuksiin.
Laite soveltuu monipuolisesti erilaisten näytteiden, kuten kovien, pehmeiden, hauraiden, heterogeenisten ja lämpöherkkien materiaalien valmisteluun. EM TIC 3X:n vaihdettavat näytetelineet ja joustava rakenne mahdollistavat laitteen räätälöinnin erilaisiin tutkimustarpeisiin.
- Kolmen ionisuihkun järjestelmä
- Soveltuu laajasti eri materiaaleille ja rakenteille
- Vaihdettavat näytetelineet ja laaja lisävarustevalikoima
Tuote on saatavilla näissä maissa:
- Suomi